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光學(xué)光譜使工藝過程更加簡單

更新時間:2020-03-30 點擊次數(shù):1363
   光學(xué)光譜儀是一種采用透射光柵為分光元件的成像光譜儀;通過將這種成像光譜儀附加到CCD 相機(jī)前,可通過空間掃描獲得目標(biāo)物的影像和連續(xù)的光譜信息。
   采用集成度的機(jī)械設(shè)計,配合的影像修正光學(xué)設(shè)計,真正可實現(xiàn)無光學(xué)像差的成像,同時設(shè)計中考慮良好的光通效率,既滿足實驗室的使用性能,同時也能夠滿足工業(yè)在線的使用的穩(wěn)定性需求。光譜的入射端采用狹縫設(shè)計,并采用的全密封式設(shè)計,可在實際使用中不會因為環(huán)境的灰塵等影響光譜儀的內(nèi)部光學(xué)元件,確保儀器的正常使用;出射端采用標(biāo)準(zhǔn)的C型接口或U型接口。
   光譜工作方式主要為推掃式,為了實現(xiàn)掃描過程,一般利用外接掃描平臺帶動光譜儀運(yùn)行;由于掃描平臺比較笨重,且增加了耗電量,給野外工作帶來諸多不便,所以現(xiàn)在新型的成像光譜儀取消了掃描平臺,改為內(nèi)置式掃描設(shè)計,光譜成像減輕了整機(jī)重量和能耗,而且可以直接進(jìn)行垂直向下測量,更利于野外使用。
   光學(xué)光譜儀應(yīng)用光譜分辨率成像光譜遙感起源于地質(zhì)礦物識別填圖研究,逐漸擴(kuò)展為植被生態(tài)、海洋海岸水色、冰雪、土壤以及大氣的研究中,具有圖譜合一的優(yōu)勢,可以到葉片一個點去探測作物不同脅迫癥狀的特征,又可獲取受脅迫作物面狀的光譜信息,點面結(jié)合綜合地反映作物遭受脅迫的程度。光譜成像已經(jīng)成為國內(nèi)外研究的熱點,學(xué)者們利用光譜成像技術(shù)定量化地提取作物所遭受的各種脅迫特征,根據(jù)高分辨率的圖像對葉片及葉片的局部區(qū)域進(jìn)行分析,從而在更加微觀的尺度上進(jìn)行機(jī)理探測研究。

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